資料下載:DTA的應(yīng)用
DTA測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)產(chǎn)品伴隨溫度變化,攔截電子件及PCBA早期失效缺陷。
連續(xù)式隧道爐DTA測(cè)試系統(tǒng),由低溫區(qū)、低溫測(cè)試區(qū)、高溫區(qū)、高溫測(cè)試區(qū)和冷卻區(qū)組成。
產(chǎn)品流轉(zhuǎn)順序?yàn)椋旱蜏貐^(qū) → 低溫測(cè)試區(qū) → 高溫區(qū) → 高溫測(cè)試區(qū) → 冷卻區(qū)。
產(chǎn)品在爐內(nèi)完成低溫和高溫測(cè)試,持續(xù)測(cè)試過(guò)程中的溫度與低溫和高溫區(qū)控制的溫度一致。
低溫區(qū)和低溫測(cè)試區(qū)標(biāo)稱溫度:-45℃,溫度分布偏差:±2℃。防結(jié)霜系統(tǒng)的設(shè)計(jì),更長(zhǎng)的除霜周期。經(jīng)仿真優(yōu)化的風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),保證優(yōu)秀的溫度分布偏差。
高溫區(qū)和高溫測(cè)試區(qū)標(biāo)稱溫度:+185℃,溫度分布偏差:±2℃。經(jīng)仿真優(yōu)化的風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),保證優(yōu)秀的溫度分布偏差。
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